超音波探傷器は、トランスデューサー(プローブ、探触子)と呼ばれるセンサーから発信した超音波が、内部のきずや反対面に反射し戻ってくる時間と強さを測定し、材料の内部の様子を計測します。
右絵のように、測定物にトランスデューサーを接触させると、内部の傷や反対面から反射したエコー(超音波)が、探傷器のモニターに表示されます。
モニターY軸のエコー高さは、戻ってくる超音波の強さを表します。高ければ高いほど、超音波が強いことを意味します。
X軸の時間は、発信された超音波が戻ってくるまでの時間を表します。右側にいくほど戻ってくる時間が遅くなり、トランスデューサーからの距離が遠いことを意味します。
このように超音波探傷器では、モニターに表示されるエコーの高さと位置から、材料内部の状態を判断します。
