用語集

超音波厚さ計・超音波探傷器 用語集

超音波厚さ計および超音波探傷器の用語集のページです。超音波厚さ測定・超音波探傷試験に関する専門用語から、装置の機能に関する用語まで、様々な用語を分かりやすく説明します。

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用語 説明
超音波 人間が聞くことができない20KHz以上の高い音波のこと。超音波厚さ計・探傷器では、一般的に1MHz～20MHzの超音波を使用する。
エコー きずや裏面に反射し戻ってきた超音波のこと。
底面エコー 試験体の裏面に反射し戻ってき超音波のこと。Bエコーと表示される。
きずエコー きずに反射し戻ってき超音波のこと。Fエコーと表示される。
遅れエコー 底面エコーやきずエコーと伝搬経路が異なったり振動様式の変換により、底面エコーやきずエコーよりも遅れて探触子に受信されるエコーのこと。
SN比 底面エコーやきずエコーなどの信号と、林状エコーなどの雑音（ノイズ）との比のこと。S/N比が大きいほど、きずの検出能が向上する。
音速 音の伝わる速度のこと。縦波と横波があり、同じ材質でも縦波と横波では音速が異なる。詳しくは各材質の音速一覧表を確認ください。
減衰 超音波が試験体を伝搬するときに振幅が次第に減少する現象のこと。減衰の度合いは試験体の結晶粒の大小や試験周波数の影響を受ける。
ゲート 底面エコーやきずエコーなど、必要なエコーの情報を取り出す目的で時間軸（横軸）上に設けた監視範囲のこと。
探触子（トランスデューサー） 超音波の受発信を行うセンサーのこと。トランスデューサーやプローブとも呼ばれている。垂直探触子と斜角探触子に大別される。
垂直探触子 垂直探傷（試験体の探傷面にほぼ垂直に超音波を入射させて探傷する方法）や厚さ測定で使用する探触子のこと。
射角探触子 斜めに横波超音波が伝搬するように設計された探触子のこと。溶接部の探傷等で用いられ、超音波の屈折角には、主に45度・60度・70度が使用される。
SH波探触子 試験体の表面を水平に伝播する横波を発生する探触子こと。
一振動子探触子 超音波の発信と受信を1つの振動子で行う探触子のこと。直進性に優れ、正確な厚さ（ビーム路程）の測定が可能。
二振動子探触子 超音波の発信部と受信部が別々に設置された探触子のこと。ある程度表面状態が悪くても測定が可能で、超音波厚さ計で広く使用されている。
くさび 超音波を探傷面に対して斜めに入射させる目的で、振動子の前面に付けるくさび状の樹脂のこと。
遅延材 薄物の厚さ測定や表面近傍の探傷を行うために、探触子の全面につける樹脂のこと。
接触媒質（カプラント） 超音波の伝達のために、探触子と測定物の間に介在させる液体のこと。マシン油、水、グリセリン等でもよいが、専用剤の方が超音波の伝達に優れており、正確に測定することができる。カプラントとも呼ばれている。
標準試験片 形状、寸法、材質が規定され、超音波に対しても検定されている試験片のこと。装置の動作試験や感度調整などに用いられる。略号はSTBで表す。
対比試験片 超音波厚さ計・探傷器の動作・性能確認、零点・音速調整、感度調整および距離振幅曲線の作成などを目的のため使用される試験片のこと。測定対象物の一部か同一材質で製作する。略号はRBで表す。
Aスコープ 縦軸に受信した超音波（エコー）の強さ、横軸に時間をとり、超音波を表示する方法のこと。
Bスコープ 縦軸に距離、横軸に方位を示す方法で、試験体の断面方向の情報を得ることができる。断面表示とも呼ばれる。
マテリアルリスト 各材料の音速値を一覧表示した表。この表の音速値は一例であり、材料の組成等により音速値の表記が多少異なる資料もある。
データロガー 測定値を装置内部に保存する機能。保存した測定値は、後から呼出・表示したり、PCと接続して転送することができる。
セットアップ 測定条件を装置内部に保存する機能。後から呼び出すことにより、以前設定した保存済みの測定条件を再現することができる。
IP等級 国際電気標準会議（IEC）の規格IEC60529（JIS C 0920:2003）に基づいて規定されている、装置への固形物や水の浸入に対する保護の等級表示。

超音波厚さ計

用語 説明
零点調整用試験片 試験体の表面位置（厚さのゼロ位置）を合わせる時に使用する調整用試験片のこと。
自動零点調整 零点調整用試験片を用いずに、自動的に試験体の表面位置（厚さのゼロ位置）の調整を行う機能。
一点校正 一点校正により音速が調整される。事前に零点調整を実施する必要がある。測定対象物と同じ材料の対比試験片を用意し、実際の測定範囲の任意の箇所で、その厚さが表示されるよう調整する。
二点校正 二点校正を行うことにより零点と音速が調整さる。測定対象物と同じ材料の対比試験片を用意し、実際の測定範囲を含む任意の2つの厚さで調整する。校正を実施した2点間において、より高精度の厚さ測定が可能となる。
カップリングチェック 探触子が測定物ときちんと接触し、超音波の受発信が適切に行われているかをチェックする、またはチェックする機能のこと。
スキャンモード 1秒当たり通常よりも多い回数の画面表示を行い、通常の表示間隔では見逃してしまうような、瞬間的に捕捉した最小値または最少値と最大値を表示する。
アラームモード 任意のあらかじめ設定した基準厚さを下回った場合や上回った場合に、LEDを光らせたりブザーを鳴らしたりして警報を発生する機能。
差厚測定モード 任意のあらかじめ設定された基準厚さとの差の値を表示する。ディファレンシャルモードとも呼ばれている。
パルス・エコー方式 零点調整により設定したゼロ点と、1回目の底面エコーから厚さを求める方法。零点・第一回底面エコー方式とも呼ばれる。
エコー・エコー方式 1回目の底面エコーと、2回目の底面エコーから厚さを求める方法。表面に塗装がされていても、母材（素地）の厚さのみを測定することができる。多重エコー方式、スルーペイント機能、スルーコート機能とも呼ばれている。

超音波探傷器

用語 説明
垂直法 試験体の探傷面に垂直に超音波を入射させて行う探傷のこと。垂直探触子を使用する。
斜角法 試験体の探傷面に斜めに超音波を入射させて行う探傷のこと。斜角探傷を使用する。
水浸法 試験体を水槽などの水中に置き、探触子と試験体の間に水を介在させて探傷する方法のこと。
直射法 斜角探傷において、超音波ビームを試験体の裏面に反射させずに直接探傷する方法のこと。
一回反射法 斜角探傷において、試験体の裏面に超音波ビームを1回反射させ探傷する方法のこと。
入射点 斜角探触子においてビーム軸が探傷面に入射する点のこと。STB-A1の100RまたはSTB-A3の50Rを用い、エコー高さが最大となる探触子の位置を入射点とする。
公称屈折角 斜角探触子に表示されている屈折角のこと。
STB屈折角 STB-A1形またはA3形標準試験片を用いて実測した屈折角のこと。
ビーム路程 超音波ビームが、入射点からきずや底面などの反射源まで伝搬した距離（片道）のこと。
エコー高さ 表示器（ディスプレイ）上に表示されるエコー高さのこと。％または、基準値との比や２つのエコーの比のdBで表す。
測定範囲 探傷器の表示器に表示される、探傷距離（ビーム路程）の範囲のこと。（横軸の左端から右端までの範囲のこと）
探傷感度 評価対象として検出しようとするきずエコーの高さが、表示器上の読み取りやすいレベルに表れるように調整した感度のこと。探傷感度は、標準試験片（STB）や対比試験片（RB）を用いて調整する試験片方式と、試験体の健全部の底面エコーを用いて調整する底面エコー方式がある。
エコー高さ区分線 きずエコーの高さを領域で区分して評価する為の線のこと。一般的に、H線、M線、L線の各線が定義されそれらの高さの比は6dBとなる。
距離振幅特性曲線（DAC） ビーム路程または探傷距離によるエコー高さの変化を示す曲線のこと。探傷面からきずまでの距離が遠くなれば、ビームの広がりと減衰により、同じ大きさのきずでもエコー高さは小さくなる。H線、M線、L線の各線が定義されそれらの高さの比が6dBとなる線のことを、特にエコー高さ区分線と呼ぶ。
きずの指示長さ きずエコー高さに閾値を設け、その閾値を超える探触子の移動範囲から推定するきずの長さのこと。
6dBドロップ法 きずの指示長さ測定方法の1つで、きずの最大エコー高さの-6dBのレベルを超える探触子の移動範囲を欠陥とする方法のこと。
F/B きずエコー高さの底面エコー高さに対する比のこと。
リジェクション ある一定の高さ以下のエコー又はノイズを排除すること、またはその機能のこと。エコー高さの低いきずエコーを見落とす恐れがあるため、使用には注意が必要。