Usage 用途（超音波厚さ測定/測定方法）

最も基本的な測定方法です。測定箇所にトランスデューサー（プローブ・探触子）をあて、表示された厚さを測定値とします。
腐食・減肉の程度が小さい測定物に適用します。

1度厚さを測定した後に、トランスデューサー（プローブ・探触子）を90度回転させて、もう1度同じ箇所を測定します。2回の測定の内、表示された厚みの薄い方を測定値として採用します。
2回測定法は、1回測定法に比べ正確に減肉を把握することができるため、腐食の進行が想定される場所では、2回測定法を推奨します。

測定点を中心とする円状（または楕円状）の内側を、多数回測定する方法です。表示された厚みの内、もっとも薄い値を測定値として採用します。局部腐食が進行している箇所での測定に有効です。
測定範囲とする円（楕円）の大きさは、腐食・減肉の状況により判断します。測定範囲の指示がない場合は測定点を中心とする直径30ｍｍの円内とします。

精密測定法は、腐食の著しい進行が予想されている箇所で、減肉の分布状況を確認するために行う測定方法です。
測定範囲の指示がない場合は、測定点を中心に50×50ｍｍの範囲を10mm間隔の格子状に分割し、交点を測定します。測定結果は等高線などで平面表示するか、減肉の著しい箇所の厚さと位置を記録します。

連続測定法は、厚さの変化を確認するために行う測定方法です。測定断面の厚さの変化から裏面の状況を推測する場合などに適用します。
測定線上を、1回測定法により5mm間隔（指示の無い場合）で測定を行うか、もしくは、連続的に測定（スキャン）を行います。ニ振動子探触子を使用する場合は、音響隔離面の向きは測定線と直角に保ちます。事前に定めた厚さ以下の測定値とその位置を記録するか、または測定線に沿う厚さ変化を断面表示します。

腐食の進行状況や測定目的に応じて、1回測定法、2回測定法、多点測定法、精密測定法、連続測定法を使い分けてください。
各測定法の詳細については、測定方法（基礎）を参照ください。

腐食および孔食検査では、基本的には周波数が5MHzで径12mm以下の、二振動子のトランスデューサー（プローブ・探触子）を使用します。厚みのある材料を測定する場合は、大径または低周波数のトランスデューサーを使用し、高い精度を求める場合は、より高い周波数のトランスデューサーを使用します。
測定面が、腐食により錆やスケール、凹凸がある場合は、測定前に処理する必要があります。錆や浮いたスケールは、ワイヤブラシ（金属たわし）や剥離剤で除去し、表面の凹凸は砥石やサンドペーパーを用い100μmRz以下に仕上げます。

エコー・エコーモード（多重エコー方式、B1-Bn方式）が搭載された超音波厚さ計で測定を行います。
エコー・エコーモードでは、1回目の底面エコー（B1）と２回目の底面エコー（B2）の伝播時間差から厚さを算出します。1回目の底面エコー（B1）と２回目の底面エコー（B2）の伝播時間差には、塗膜の厚さ分が含まれておらず、鋼材の厚さのみとなるため、塗膜を剥すことなく鋼材の厚さを測定することができます。

腐食検査用厚さ計

トランスデューサー（プローブ・探触子）には、2回目の底面エコーの測定に適したハイダンプ仕様のトランスデューサーを使用します。
素地（母材）が厚みのある場合には3.5MHzのトランスデューサーを使用し、素地がアルミニウムやステンレス、チタンの場合は7.5MHzのトランスデューサーを使用します。
ハイダンプのトランスデューサーは、塗膜上からの測定以外にも、腐食検査や厚さ測定等の通常の測定にも使用することができます。
Aスコープ(波形)表示付きの超音波厚さ計（MVX、CMX DL+）を使用すれば、測定面の状態が悪い場合や、裏面で腐食が進行している場合でも、感度（ゲイン）やゲートを調整することで測定することができます。
（注）表面または裏面が極端に粗い場合は、測定できない場合があります。

精密検査用厚さ計

精密検査用の厚さ計では、塗装（塗膜）の厚さが厚い場合に、素地（母材）ではなく膜厚を誤って測定してしまう場合があります。Aスコープ（波形）表示付きの超音波厚さ計のPVXであれば、このような場合でもゲートを調整することで、素地（母材）の厚さを測定することができます。

CMXシリーズの膜厚測定は、超音波を使用しています。このため、超音波式膜厚計と同様に以下の制約があります。

・発泡性の塗膜、異物を含む塗膜、超音波の減衰が大きい塗膜は測定できない。

・測定面が粗い場合は、超音波が透過しないため、測定できない。

・塗膜の音速を設定する必要がある。

・測定面とトランスデューサー（プローブ）の間にカプラントを塗布する必要がある。

管材（配管・パイプ）の軸方向に対して、トランスデューサーの音響隔離面の向きが直角（垂直）になるように接触させます。径が比較的大きな管材に対しては、この１回測定法で厚さを測定します。

まず、１回測定法と同様にトランスデューサーを、管材の軸に対して直角に接触させます。次に、トランスデューサーの接触角度を90度変え管軸に対して平行に接触させます。２回の測定の内、薄い方の厚さを測定値として採用します。
トランスデューサーを平行に接触させることにより、管材との接触が安定し、直角に接触させた場合では測定値が安定しない場合も、測定ができるようになります。

軸方向測定線上で最小肉厚点から遠ざかる方向にトランスデューサーを移動して厚さ測定を繰り返し、測定値が健全厚さに戻る点にマーキングします。これを管軸方向の両方向について行います。（TL1、TL2）

次に、周方向測定線に対しトランスデューサーを直角にし、周方向測定線上を最小肉厚点から遠ざかる方向に測定を繰り返し、健全厚さに戻る点にマーキングします。これを管周方向の両方向について行います。（TC1、TC2）

健全厚さに戻る点の位置を製図用デバイダなどで寸法測定し、最小肉厚測定値と併せて記録します。

＊残存厚さが2mm以下の場合や、小径配管の測定は、PVXとペン型トランスデューサーを使用して測定を行ってください。

内径30mm以上用（R15mm）

内径100mm以上用（R50mm）

軸方向測定線上で最小肉厚点から遠ざかる方向にトランスデューサーを移動して厚さ測定を繰り返し、測定値が健全厚さに戻る点にマーキングします。これを管軸方向の両方向について行います。（TL1、TL2）

次に、周方向測定線に対しトランスデューサーを直角にし、周方向測定線上を最小肉厚点から遠ざかる方向に測定を繰り返し、健全厚さに戻る点にマーキングします。これを管周方向の両方向について行います。（TC1、TC2）

健全厚さに戻る点の位置を製図用デバイダなどで寸法測定し、最小肉厚測定値と併せて記録します。

＊残存厚さが2mm以下の場合や、小径配管の測定は、PVXとペン型トランスデューサーを使用して測定を行ってください。

ペン型トランスデューサーで、プレス成形品やプラスチック・樹脂成形品、小径パイプ等の様々な形状の厚みを測定することができます。

ペン型トランスデューサーは、先端径が細いため、測定面に垂直に接触させることが難しく、このため、Aスコープ（波形）表示付きの超音波厚さ計（PVX）で、垂直に接触していることを確認しながら、測定を行います。

ペン型トランスデューサーで、プレス成形品やプラスチック・樹脂成形品、小径パイプ等の様々な形状の厚みを測定することができます。

測定方式は、パルス・エコーモードまたは、エコー・エコーモードを使用します。エコー・エコーモードでは、探触子内部（遅延材）の温度変化による誤差を除去することができるため、より正確な厚さを測定することができます。一方で、2回目の底面エコーが必要になるため、減衰の大きな材料では使用することができません。

高温用のトランスデューサー（プローブ・探触子）を使用しても、適切に使用しなければ、故障してしまう恐れがあります。以下の手順に従い測定してください。

１．高温用のカプラント（接触媒質）をトランスデューサー（プローブ・探触子）に塗り、トランスデューサーを測定面に軽く押し当てます。

２．1〜2秒以内に、表示される測定値を確認します。

３．必要に応じて、測定値の確認のために、トランスデューサーを軽く前後左右に動かします。トランスデューサーが故障する恐れがあるため、トランスデューサーに加える力を増したり、5秒以上測定箇所に接触したままにすることは避けてください。

４．トランスデューサーを測定箇所から取り外し、冷気または水に浸し常温に戻します。

５．次の測定に移る前に、トランスデューサーに残っているカプラント（接触媒質）を拭き取り、新しいカプラント（接触媒質）をトランスデューサーに塗布します。

注）校正用試験片を用いて音速を校正する場合は、試験片の温度を、実際の測定箇所の温度に一致させてから、音速の校正を実施して
ください。

538℃の高温測定に対応する耐熱トランスデューサー『E58D1』では、測定毎に冷却を行うことなく連続的に測定することができます。

１．高温用のカプラント（接触媒質）をトランスデューサー（プローブ・探触子）に塗り、トランスデューサーを測定面に軽く押し当てます。

２．表示値を確認します。

３．必要に応じてトランスデューサーを軽く前後左右に動かし、表示される値を確認します。故障・消耗する恐れがあるため、トランスデューサーを強く押し付けない様に注意してください。

４．トランスデューサーを測定箇所から離し、トランスデューサー表面に残っているカプラント（接触媒質）を拭き取ります。新しいカプラントを塗布し、続けて測定を行います。

注）校正用試験片を用いて音速を校正する場合は、試験片の温度を、実際の測定箇所の温度に一致させてから、音速の校正を実施して
ください。

通常のトランスデューサー（プローブ・探触子）の耐用温度は、約70℃です。測定箇所の温度が70℃を超える場合、高温に対応した5MHzまたは2.25MHzの高温用トランスデューサーを使用します。高温材料は、一般的に常温に比べ超音波の減衰が大きいため、可能な限り先端径（振動子径）の大きなトランスデューサーを使用します。また、厚さ計本体も感度（ゲイン）調整ができる装置の使用をお勧めします。

水中構造物は、腐食の進行や貝などの付着物により、測定面の状態が非常に悪い場合が多くあります。そのままの状態では測定できません。ワイヤーブラシ等で表面をきれいにしてから測定してください。

＊水中､特に海水での測定は､トランスデューサーの消耗を著しく早めます。必ずスペアのトランスデューサーを携行することをお勧めします。